コンパクトな低周波騒音測定システム
フリッカー ノイズおよびランダム/信号電信ノイズ (RTN または RTS) のさまざまな測定要件をサポート
システムのハードウェアとソフトウェアにおいて大幅かつ革新的な改善を実現デザイン
Primius 半導体パラメータ試験システム FS-Pro と併用, テストの効率とスループットを大幅に向上させる並列テスト フレームワーク ソリューションの提供
複数の内蔵 LNA
広いインピーダンス整合範囲
MOSFET, SOI, フィンFET, TFT, HV/LDMOS, BJT/HBT,
JFET, ダイオード, 抵抗器, パッケージ化された IC, など.
大幅に改善
テストの効率とスループット
標準的なデバイスの 1/f ノイズの場合は 60 秒/バイアス
広い電圧/電流/インピーダンス範囲
優れた品質と競争力のあるコスト
のプロセス/デバイスの評価
高度な IC 平和 麻雀
プロセス
評価
&監視
半導体デバイス研究のためのノイズ特性評価
平和 麻雀ICE モデル抽出のためのノイズ特性評価