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1つのシステムでは、現在の電圧(IV)テスト、容量電圧(CV)テスト、パルスIVテスト、任意の線形波形の生成と測定、高速波形の生成と収集、および低周波ノイズテスト機能が実現されます。ほぼすべての半導体デバイスの低周波特性特性特性は、FS-Proテストシステムで完了できます。 78399_78494
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